技術講演会(16/08/01) [終了]

イベント, 群馬大学アナログ集積回路研究会共催

  • 日時:2016年08月01日(月) 12:40~15:50
  • 会場:群馬大学理工学部(桐生キャンパス)総合研究棟502号室
    交通アクセス / 桐生キャンパス案内図
  • 講演概要「LSIテスト技術の応用(テストデータ活用)及び技術動向(VTS2016報告)」
    畠山 一実 氏(群馬大学 客員教授)
  • 参加費:無料


IoT時代を迎え,LSIの応用分野の拡大に伴ってその品質を確保するためのテスト設計の重要性が一段と高まっています。本講演の前半では,LSIテスト技術の応用として,テスト結果データの活用技術について説明します。また後半では,LSIテスト技術の動向として,今年の4月に米国で開催されたVTS(VLSI Test Symposium)2016について報告します。


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