第388回 群馬大学アナログ集積回路研究会 (19/8/1) [終了]

イベント, 群馬大学アナログ集積回路研究会共催

  • 日時:2019年8月1日(火) 12:40 – 15:50
  • 会場:群馬大学理工学部(桐生キャンパス) 3号館509号室(E大教室)
    交通アクセス / 桐生キャンパス案内図
  • 講演題目 「LSIテスト技術の基礎と最新技術動向」
    畠山一実 先生(群馬大学 協力研究員)
  • 参加費:無料
  • 本講演はお申し込み不要でございます。
    参加を希望される方は、当日会場へお越しください。


概要:
IoTが本格化する中、LSIの応用分野拡大に伴ってその品質確保のためのテスト技術の重要性が一段と高まっています。本講演では,LSIテスト技術の基礎として、論理回路のテスト生成手法及びテスト容易化設計手法について説明します。

そののち、LSIテスト技術の最新動向として,今年4月に米国で開催されたVTS(VLSI Test Symposium)2019について報告します。さらに、近年重要性が高まっているアナログ欠陥指向テストについても紹介します。


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