技術講演会(17/02/08) [終了]

イベント, 群馬大学アナログ集積回路研究会共催

  • 日時:2017年2月8日(水) 12:40〜15:50
  • 会場:群馬大学理工学部(桐生キャンパス)総合研究棟502教室
    交通アクセス / 桐生キャンパス案内図
  • 講演題目 「LSIテスト技術の基礎と動向(ITC2016/ATS2016報告)」
    畠山一実氏 (群馬大学客員教授)
  • 参加費:無料
  • 本講演はお申し込み不要でございます。
    参加を希望される方は、当日会場へお越しください。
  • 講演会資料


概要:
IoTが本格化する中,LSIの応用分野拡大に伴ってその品質確保のための
テスト技術の重要性が一段と高まっています。本講演では,LSIテスト技術の基礎
として,論理回路のテスト生成手法およびテスト容易化設計手法について説明
します。さらに,LSIテスト技術の最新動向として,
11月に米国で開催されたITC(International Test Conference)2016および
同じ11月に広島で開催されたATS(Asian Test Symposium)2016について
報告します。
群馬大学アナログ集積回路研究会web


PAGE TOP