第347回 群馬大学アナログ集積回路研究会 (18/2/5) [終了]

イベント, 群馬大学アナログ集積回路研究会共催

  • 日時:2018年2月5日(月) 12:40 – 15:50
  • 会場:群馬大学理工学部(桐生キャンパス)総合研究棟502号室
    交通アクセス / 桐生キャンパス案内図
  • 講演題目 「LSIテスト技術の基礎と動向(国際会議ITC2017報告)」
    畠山一実氏(群馬大学)
  • 参加費:無料
  • 本講演はお申し込み不要でございます。
    参加を希望される方は、当日会場へお越しください。


概要:
AIやIoTの利用の広がりによるLSIの応用分野拡大に伴い、その品質確保のためのテスト技術の重要性が一段と高まっています。

本講演では,LSIテスト技術の基礎として、論理回路のテスト生成手法及びテスト容易化設計手法について説明します。さらに、LSIテスト技術の最新動向として、11月に米国で開催されたITC (International Test Conference) 2017における技術動向について紹介します。

AI: Artificial Intelligence / 人工知能
IoT: Internet of Things / モノのインターネット
ITC: International Test Conference / LSIテスト関係の最大の国際会議
International Test Conference 2017


群馬大学アナログ集積回路研究会web


PAGE TOP